№ |
Наименование методики |
Наименование организации, аттестовавшей методику |
Дата аттестации |
1 |
Методика выполнения измерений геометрических параметров массивов оксидных наноразмерных структур методом атомно-силовой микроскопии |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
16.12.2009 |
2 |
Сертификат о калибровке растрового электронного микроскопа Nova Nanolab 600 |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
19.09.2011 |
3 |
Методика измерений удельного сопротивления гомогенных полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
14.10.2011 |
4 |
Методика измерений механических параметров вертикально ориентированных нанотрубок методом наноиндентирования |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
14.10.2011 |
5 |
Методика измерений высоты массива вертикально-ориентированнных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
14.10.2011 |
6 |
Свидетельство об оценке состояния измерений в лаборатории зондовых нанотехнологий |
ФБУ «Ростовский ЦСМ» |
20.12.2011 |